精密仪器维修现场对环境洁净度要求极高，像半导体检测仪、高精度光学仪器等设备的核心部件，其精度往往达到微米甚至纳米级别。维修过程中，设备内部元件暴露，空气中 0.1um 及以上的微小尘埃粒子若附着在元件表面，可能导致设备性能下降、数据失真，甚至引发故障 —— 例如光学镜头沾染微粒会影响成像质量，芯片电路触点被颗粒覆盖可能造成短路。传统的固定点监测难以覆盖维修操作的各个动态区域，人工采样检测又存在滞后性，无法实时捕捉维修过程中因人员走动、工具摆放、部件拆卸等带来的颗粒浓度波动。同时，维修现场空间有限且需频繁移动操作，固定监测设备灵活性不足。在此背景下，为实时监测维修区域的微小颗粒浓度，确保维修过程始终在洁净环境中进行，避免颗粒污染影响维修质量，精密仪器维修现场亟需 0.1um 便携式激光粒子计数器进行移动式尘埃粒子监测。

OSEN-T4011型0.1um便携式激光粒子计数器（28.3L）

OSEN-T4011型便携式激光尘埃粒子计数器，是我司自主研发的一代产品。计数器以光散射原理为理论，通过光电传感技术实现对尘埃粒子粒径检测及粒子数量的计数。相比于普通款的大流量粒子计数器，此款仪器检测粒径更小，能*小检测0.1um的粒子数，适用于十级及一级的超净环境;适用于电子、半导体、液晶面板、微纳加工、航空航天、精密加工、新型材料、科研院所等超净场景。

技术参数

粒径范围：0.1um-10.0um

标准粒径通道：0.1um,Q15um,02um,0.25um.0.3um，05um,10um,5.0um

0.1um粒径档：计数效率50±20%

浓度示值误差：0.5μms t20%FS

采样浓度：500000PC/CRM，浓度超眼保护，并提示仪器自净

重复误差：±5%FS

自净时间：≤10min

采样流量：28.3L/min(1CFM)±5%

采样周期：1-9999s可调

采样延时：0-999s可调

采样次数：1-50次可调

采样模式：置信度(UCL)测量、普通测量

点位预设：400房间点位预设，一键选择，快速采样

激光光源：长寿命日本进口半导体激光二极管

真空：内部真空源，寿命{>}20000小时

显示：7英寸IPS触摸彩屏

打印方式：嵌入式热敏打印

工作电压：DC24V/1A

内置锂电池：DC24V/2SAH

充电电源：AC220V/50Hz

电池续航：≥14 小时

充电器：输入AC100-240V/50HZ,输出DC2S2V/SA

充电时间：5小时

数据储存：20000条

数据导出：U盘导出，导出格式PDF

数据安全：20位用户管理，密码复杂度管理，多级权限管理

通道选择：8通道/2 通道(01 05uml自定义切换

校准提醒：校准提醒功能，提醒用户及时计量,确保仪器正常使用

审计追踪：可查询可追用可控制符合FDA 21CFR PART11规范

温湿度检测：0-50C0-100%RH(选配功能)

校准规范：JJF1190-2008,GB/T6167-2007

判定标准：GMP静态、GMP动态、ISO14644-1

外壳：304不锈钢

尺寸：宽24.4*深20.8*高25.0cm

重量：6.5Kg(含电池)

工作环境：温度0-40C湿度10%-90%无凝结

存储环境：温度-10-50℃湿度0~90%无凝结